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X光鍍層測厚儀
- X熒光鍍層測厚儀

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產(chǎn)品名稱：韓國XRF-2000X射線測厚儀精度

產(chǎn)品型號：

產(chǎn)品報價：

產(chǎn)品特點：韓國XRF-2000X射線測厚儀精度
測量電子電鍍,化學(xué)電鍍層厚度,
如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層

韓國XRF-2000X射線測厚儀精度的詳細(xì)資料：

韓國XRF-2000X射線測厚儀精度

*層：±5%以內(nèi)

第二層：±8%以內(nèi)

第三層：±15%以內(nèi)

韓國XRF-2000X射線測厚儀測試范圍

Au 0.03-6um

Pd 0.03-6um

Ni 0.5-30um

Ni-P 0.5-30um

Sn 0.3-50um

Ag 0.1-50um

Cr 0.5-30um

Zn 0.5-30um

ZnNi 0.5-30um

SnCu 0.5-30um

韓國XRF-2000測厚儀配置

全自動臺面

自動雷射對焦

多點自動測量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢測樣品）

測量樣品高度3cm 10cm 15cm 20cm 以內(nèi)四種規(guī)格可選

測量樣品長寬均為55cm

可測試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度

每層鍍層都可分開顯示各自厚度.

測量時間：10－30秒

韓國XRF-2000X射線測厚儀精度:顯示小數(shù)點后三位

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