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X-RAY膜厚儀韓國XRF-2020L型測厚儀2000H型

型號規(guī)格：

XRF-2020L型：

測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg

XRF-2020H型:

測量樣品長寬55cm,高12cm:臺載重5kg

XRF-2020電鍍層測厚儀

檢測電子電鍍,五金電鍍

LED支架,端子連接器,半導體等電鍍層厚度

可測試單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層厚度

單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等

雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再鍍銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等

多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳再鍍金等?合金鍍層：

鐵上鍍鋅鎳,銅上鍍鎳磷等

儀器原產地：韓國

品牌：Micropioneer微先鋒

型號：XRF-2020

測量?精度

首層：±5%以內，第二層：±10%以內，第三層：±15%以內

X-RAY電鍍測厚儀測試范圍   

鍍金：0.03-6um

鍍鈀：0.03-6um

鍍鎳：0.5-30um

鍍錫：0.3-50um

鍍銀：0.1-50um

鍍鉻：0.5-30um

鍍鋅：0.5-30um

鍍鋅鎳合金：0.5-30um

X-RAY膜厚儀韓國XRF-2020L型測厚儀2000H型規(guī)格如下圖

X-RAY膜厚測試儀韓國MicropioneerXRF-2020系列

1,可以測量多層膜中每一層的厚度

2,三維的厚度型貌

3,儀器全自動臺面

4,可做長550mm*寬550*高200mm的大范圍自動樣片臺（常規(guī)高30與120mm)

5,自動雷射對焦，可實際多點自動測量.

6,軟件操作非常簡單,測速快:測試時間5-30秒可自行設置。